超結(jié)MOS是英文Super Junction的直譯,英飛淩注冊商標為Cool MOS,所(suǒ)以國內的(de)廠家都命名為超結MOS,它是在普通平麵MOS基礎上使用新型超結結構設計的(de)MOS管。這種技術(shù)通過(guò)在垂直溝(gōu)槽結構中外延N-層建立深入(rù)的p型區,形成更大的PN結,在器件返偏時,能形成很厚的PN耗盡(jìn)層,以達到高的隔離電壓。超結MOS管主要在500V、600V、650V及800V以上高電壓場(chǎng)合使用。
多層外延工藝(Multi-EPI)和深溝槽工(gōng)藝(Deep-Trench)。這兩種工藝都旨在實現(xiàn)超結MOSFET的優異性能,但各有其特點和優(yōu)勢。
概述:
多層外延工藝(yì)是開發較早且較為成熟的工藝。它基於平麵矽生長技術,通過多次摻雜、熱推進和生長多層(céng)摻雜不同的外延層,形成多個PN結,從而實現超結MOS的結構。
多層外延工(gōng)藝主要集中在歐美品牌以及韓國品牌(pái),比如SEMIHOW,英飛淩等。
優點:
高電壓承(chéng)受能力:相比傳統的(de)Super Junction技術,Multi-EPI的SJ技術能夠實現更高的電壓(yā)承受能力。
低導通電阻:多層外延(yán)工藝通過優化摻雜濃度和結構設計,能夠顯著降低導通電阻。
優良的可靠性:由於整個外延過程是基於平整界麵生長,外延位錯缺陷會比較少,因此在漏電、高溫可靠性、長期可靠(kào)性等方麵具有很好的優勢。
生(shēng)產成本降低:雖然工藝(yì)複雜,但相比其他技術,它能(néng)在一定程度上降低(dī)生產成本。
缺點:
製備工藝複雜:多層外延工藝需要多次摻雜和生長步驟,增加了工藝難度和成本。
光刻(kè)控製困(kùn)難:多次光刻和掩膜步驟可能(néng)導致精度控(kòng)製上的挑(tiāo)戰。
概述:
深溝槽工藝是一種相對簡單(dān)的實現超結技術的方法。它首先通過外延(yán)設備生長一層外延層,然後通過(guò)深槽刻蝕設備刻出深寬比很高的溝槽(cáo),再通過外延方式將溝槽填充起來(lái),形成(chéng)P柱結構。
深溝槽工藝主要集中在中國大陸品(pǐn)牌,以華虹晶圓為(wéi)主的產品,目前也有少量多層外延工藝的產品在(zài)研發並推(tuī)出市場。
優點:
工藝簡單:由於隻需要一次掩刻(kè)和(hé)填充,工(gōng)藝步驟相對較少,成本較低。
提高可靠性:減少晶體缺陷,從而提高(gāo)產品(pǐn)的可靠性和(hé)穩定性。
動態特性良好:在(zài)某些應用中,其(qí)動態特性(xìng)可能(néng)優於多層外延工藝。
缺點:
形貌控製難:矽在深槽過程(chéng)中,側邊與底部蝕刻形貌很(hěn)難控製到很平滑,可能影響器件性能。
空洞問(wèn)題:晶體外延填充(chōng)過程中容易導致(zhì)溝槽底部形成不規則的空洞,影響長(zhǎng)期(qī)高溫工作時的可靠性。
動(dòng)態特性相對差:由於界麵接近突(tū)變結,動態特性可能不如多層外延工藝(yì)。
降低導通電阻:相較於傳統VDMOS,相同電流、電壓規格的超結MOSFET的導通電阻僅為(wéi)傳統VDMOS的一半左右。這得益於其特殊的芯片內部結構(gòu)設計(jì),使得在相同的芯片麵積下,超結MOS的內阻更低。
提高開關(guān)速度:超結MOSFET的開通和關斷速度較傳統VDMOS快30%以上,這有助(zhù)於降低動態損耗,提高電源係統的效率。
減小芯片體(tǐ)積:由於超結MOS的內阻低,可以在保證性能的同時減小芯片麵積(jī),從而有利於設計更小體積的電源電路,降低產品成本。
降低發熱:較低的導通電阻和開關速度意味(wèi)著(zhe)更低的(de)損耗,進而減少了發熱(rè)量,這對於對溫度要求高的產品如充電頭等尤為重要。
提升效率:使(shǐ)用超結MOSFET後,電源效率可以上升1~2個百分點,這對於提高整體能源利用效率具有重要意義。
易於集(jí)成封裝:超結MOSFET可以與(yǔ)驅動IC一起進行集成(chéng)封裝,進一步降低產品體積和成本。
適用(yòng)領域廣泛:超結MOSFET以其優異的性能被廣泛應用於電(diàn)源、電機(jī)控製(zhì)、照明等領域(yù),特別(bié)適合於中低功率水平下的高速運行需(xū)求。
超結MOS作為一種創新的半導體器件技術,通過其獨特的超結結構設(shè)計,在降低(dī)導通電阻、提高開關速度(dù)、減小芯片體積、降低發熱和提升效率等方麵展現出顯著優勢。這些特點使得超結(jié)MOS在高(gāo)壓(yā)、高頻、高效率的(de)電力(lì)電子(zǐ)應用中具有廣闊的前景。